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手持式面铜测厚仪CMI563

具体成交价以合同协议为准

2018-01-31深圳市
型号
参数
产地:国产 加工定制:是
深圳市鼎极天电子有限公司

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膜厚仪,镀层测厚仪,膜厚测试仪,X射线测厚仪,镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪
产品简介
鼎极天电子供应手持式面铜测厚仪CMI563专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。
详细信息

 

   鼎极天电子供应手持式面铜测厚仪CMI563专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。

 

鼎极天电子供应手持式面铜测厚仪CMI563功能:

测量时,连续显示/更新平均、标准偏差、读数数目
内存可存储100组、10,000 个读数
内置时钟可更新存储数据,并给每个数据附上测量时间。
USB, IR 和系列输出选项,可用于与打印机和电脑简单连接。
背光显示,可在黑暗环境中使用。
密耳和微米之间转换
可选择多种语言: 英语、西班牙语、法语、德语、葡萄牙语、中文、日语、挪威语、俄语、捷克斯洛法克语、意大利语

鼎极天电子供应手持式面铜测厚仪CMI563操作指导:

 

1)当测量中出现示值显示不稳定现象时,其主要原因可能是工件自身材料结构的特殊性影响,例如工件本身可能是磁性材料,如果确认是磁性材料,那么就应该选择磁性涂镀层膜厚仪;如果工件为导电体,就应该选择涡流涂镀层膜厚仪。另外工件的表面粗糙度和附着物也会引起仪器示值显示不稳定,例如工件表面粗糙度过大、表面附着物太多,测量时,侧头不能准确稳定地接触工件,因而造成测量示数波动。排除故障主要就是将粗糙度比较大的工件打磨平整,除去表面附着物,并且选择合适的涂层膜厚仪; 

2)测量结果误差太多。引起涂镀层膜厚仪测量误差大的原因主要有基体金属磁化、基体金属厚度过小、边缘效应、工件曲率过小、表面粗糙度过大、磁场干扰和测头的放置方法等。在测量时应该逐一进行考虑并认真研究,zui大程度地排除干扰,使测量准确; 

3)当仪器长时间不使用时应该取出电池,在使用过程中,如果仪器出现低电压提示,应该及时为仪器更换电池,更换电池时要注意电池极性,防止装反,并且要使用正规厂家生产的优质电池,从而避免因为电池的泄露而污染仪器甚至导致仪器的损坏; 

4)在具体测量过程中,仪器每次的测量数据通常都有一定波动,一次测量误差太大,因此在测量时必须在每一测量面积内反复多次测量读数,处理数据时要排除误差过大的数据,对波动值取平均值,以zui大程度地降低因操作和仪器引起的测量误差。一般来说,测量次数越多,zui终数据越接近准确值,但是为了操作简便,一般每一测量面积内进行三到五次测量; 

5)在测量时应该注意仪器的zui大临界厚度值,因为如果工件厚度过大乃至超过仪器测量的临界厚度值,测量就不受基体金属厚度的影响。因此在测量前一定要检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果超过了,就需要进行适当校准,保证要测量正常准确进行; 

6)试件表面附着物在很大程度上影响着测量稳定性和测量精度,因此在测量前必须首先清除试件表面附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但是注意不要除去任何覆盖层物质,在保证仪器测头和被测试件表面直接稳定接触的情况下不减少覆盖层厚度。 

鼎极天电子供应手持式面铜测厚仪CMI563仪器要求
   镀层厚度要求在阴极表面上分布的均匀性和完整性,是决定镀层厚度要求质量的一个重要因素,它在一定程度上影响着镀层厚度要求的防护性能。在电镀中常用分散能力和覆盖能力来分别评定金属镀层厚度要求在阴极上分布的均匀性和完整性。镀层厚度要求在零件上分布的完整程度。覆盖能力,镀得越深,覆盖能力差,在零件凹处就镀不上金属镀层厚度要求。 镀液的分散能力与覆盖能力的含义不同,要注意区别,不要混淆。

仪器参数

型号

MAXXI  5

MAXXI  5  PIN

备注

测量元素范围

Ti22---U92

 

镀层和成分分析

Ø         镀层:zui多同时测定5层(4层镀层+基体材料)

Ø         成分:zui多同时测量20种元素

 

测量方法

Ø         FP(经验数据法),无需标准样片

 

X射线激发

Ø         50Kv1.2mA(60W)发生器

Ø         微聚焦WX射线管

 

成像系统

Ø         彩色视频系统

Ø         20倍放大倍数

Ø         被测样品图像实时显示功能

Ø         电脑显示屏具有画中画功能

 

计算机系统

Ø         Inter Pentium G2030,内存2G,硬盘500G

Ø         17吋液晶彩色显示器

Ø         MicrosoftTM  Win7 32bit

 

样品台规格

Ø         X-Y手动样品台:600×600mm,zui大承重25Kg

Ø         X-Y程控样品台:X-Y台面尺寸300×250mm,zui大承重5Kg

 

仪器外形

长×宽×gao700×770×700mm(不含电脑、显示器)

 

zui大样品

Ø         X-Y手动样品台:长×宽×gao600×500×350mm

Ø         X-Y程控样品台:长×宽×gao600×500×180mm

 

程控Z轴移动距离

180mm,可使用鼠标或手柄控制

 

主机重量

90Kg(不含电脑、显示器)

 

准直器规格

Ø         可选单准直器、多准直器

Ø         多准直器程控交换

Ø         可选园形、矩形准直器

Ø         单准直器任选:Ø0.2Ø0.3Ø0.50.1×0.3mm

Ø         多准直器选项:①Ø0.20.06×0.060.05×0.150.1×0.2mm;②Ø0.1Ø0.200.06×0.060.05×0.15mm

Ø         可选单准直器、多准直器

Ø         多准直器程控交换

Ø         可选园形、矩形准直器

Ø         单准直器任选:Ø0.3Ø0.4Ø0.50.2×0.5mm

Ø         多准直器:Ø0.3Ø0.50.1×0.70.2×0.7mm

 

探测器

正比例计数器

25mm2半导体(Si-PIN)探测器,Peltier电制冷

 

软件模块可选

μ-Master用于镀层测量

Element--Master用于材料分析

%-Master用于材料分析(珠宝)

Report-Master用于微软报告文件

Data-Master用于数据库管理

Liquid-Master用于电镀液分析

 

产地

德国

优质手持式磁感应膜厚仪批发价格原理:

   膜厚仪是采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小, 来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路,引入微机.现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。

 

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产品参数

产地 国产
加工定制
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