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IM3570阻抗分析仪-阻抗测试仪
具体成交价以合同协议为准
2017-10-09深圳市
- 型号
- 参数
- 产地:进口 加工定制:是
产品简介
IM3570阻抗分析仪产品概述
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
详细信息
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
IM3570阻抗分析仪产品属性 | |||||
型号 | IM3570 | 类型 |
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测量范围 | 100mΩ~100MΩ | 测量准确度 | ±0.08%rdg. θ：±0.05° | ||
测量频率 | 4Hz~5MHz | 测量速度 |
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用途 |
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IM3570阻抗分析仪产品概述
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
IM3570阻抗分析仪选型指南
测量模式 | LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量 |
测量参数 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
测量量程 | 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定） |
显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值 |
基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
测量频率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） |
测量信号电平 | V模式，CV模式（普通模式） |
输出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF |
测量时间 | 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值） |
测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
其他功能 | DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能 |
接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN |
电源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA |
打印 | 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） |
接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) |
电源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA |
体积和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg |
附件 | 电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1 |
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