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WBLE-200J 电磁式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLE-200J
具体成交价以合同协议为准
2017-06-28北京市
- 型号
- WBLE-200J
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产品简介
本仪器采用了磁性测厚方法，可损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。 内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
详细信息
| 电磁式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLE-200J | 货号：ZH6918 |
| 产品简介 本仪器采用了磁性测厚方法，可损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。 内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。 测定方法:电磁式 测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层 测定范围:0～1500um或0～60.0mils 测定精度:<15um±0.3um >15um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um 界限设定:可设定上/下限数值 测试单位:公/英制互换 显示方式:LCD数显 操作面板:密封防水按键 附属品:铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 体积:80(W)×80(D)×30(H) 重量:1100g |  |
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