Smart-1 Auto Curve Tracer
测试通道: 基本64ch, 标准256通道，*可扩充至4096ch
机台功能: 元器件开短路量测以及良品不良品比对
元器件IV曲线量测以及良品不良品比对
元器件漏电量测以及比对
元器件unpower leakage以及比对
主要应用于IC失效分析领域
量测方式: 有手动量测模式,可搭配探棒
计算机设定, 自动量测 IC 每一Pin 之 I / V Curve
分析时间: 因为采计算机化控制, 所以量测时间很快.
快检模式: 具有All to Pin & Pin to All 之快检模式,
所以可以快速筛检出有Open/Short之Pin脚
I / V Curve量测比对功能: 可量取一Golden Sample之I / V Curve , 然后与未知之待测sample做比对,在同一界面可同时比对上百条IV曲线，也可同时显示上百条IV曲线，可快速筛出有问题之sample,非常便利!
SMU : 标准配备具有 3 组, 所以可以量测IC 在Bias 状态下之Powered Curve Tracer & Powered Leakage Test.
即量测IO对G 曲线时，可利用其它2组SMU对VCC或RESETpin持续偏压
SMU1损坏,SMU2自动替补
分析报告产出: 量测之结果 可直接产出客户所需之报告格式, 并可透过网络直接分享给相关部门来讨论.
IV曲线取点数量：无限制，间隔0.0001V-0.5V可设定，间隔时间可设定。
IV比对方式：
可采用传统I/O对G或VCC对I/O,也可采用ALL to pin或pin to all,这种情况下描绘的IV曲线就是二极管曲线，良品不良品比对结果永远在1%范围内，容易分辨良品不良品
量产测试: 可外接Handler, 做大量生产测试
测试Program : 每个产品之测试Program皆可储存下来, 下次要再分析时, 即可开启马上进行测试 !
Failure analysis 经验: 敝司除了机台销售之外, 亦有RA/FA Lab. Service之相关经验, 可提供客户更高之附加价值!
应用领域：主要应用于芯片来料检测及失效分析
良好的销售实绩: 力成、联测、育霈、无锡安盛、天水华天x 2set、
沛顿（kinston）、SanDisk，精材科技、艾克尔、中芯、Microchip(Thailand)、NEC、Flextronix、盛群、北京中星微电子、展讯通讯、瑞萨半导体x 2、创锐讯通讯
Advanced Silicon、、海思半导体、珠海炬力、Microsoft(X-BOX)、广州5所，航天201所，13所，航天九院，电子四所失效分析
苏州三星半导体（Samsung）、宜特科技(中国台湾)x 3set、上海宜特x 3set、南茂微电子、
深圳宜智发 x 2set、东莞三星电机、、英业达、威达电、群丰、台达电子、中达(江苏)、西门子(南京)、闳康(中国台湾)x 2set, 闳康(上海)x 1set,台达电(东莞) , 深圳华测检测实验室, 聚成科技,中科院微电子所,豪威科技,华为海思，华为科技，富士康，上海宏达，
日月新,京信通讯,华为通讯, 日月光(中坜)x 2set, 超丰电子,胜开,
记忆科技(深圳), 北京航天研究所..等中国大陆三百台之销售实绩.
Smart-1 Auto Curve Tracer
