X-Ray镀层测厚仪
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X-Ray镀层测厚仪
X-Ray镀层测厚仪

FISCHERSCOPE®X射线XULX-Ray镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-03-04 14:09:10
325
属性:
测量范围:0-60um;测量精度:0.001um;产地:进口;加工定制:否;重量:65kg;
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产品属性
测量范围
0-60um
测量精度
0.001um
产地
进口
加工定制
重量
65kg
关闭
苏州吉恩斯检测技术服务有限公司

苏州吉恩斯检测技术服务有限公司

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产品简介

这是一款入门级的X-Ray镀层测厚仪,专业用于电镀镀层厚度的检测,电镀及表面处理是生产制造中很重要的一个环节,也关乎着很多产品的质量,包括电子电器产品、航空航天、轨道交通、汽车制造等等,在电镀及表面处理行业里,镀层厚度是企业成本的关键,也是电镀类产品质量的指标之一,所以有一款能快速、方便的检测出电镀层厚度的仪器,是电镀企业*的帮手。

详细介绍

入门级X射线荧光分析

FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分,但在质量控制方面也是*的帮手:坚固耐用,非常适合测量批量生产的零件(如螺母和螺栓)上的电镀层 。

XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中;或者,对于较小的物品(例如插头),仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑,但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。

如果您有多种不同的测量任务,FISCHERSCOPE X射线XULM拥有可互切换的过滤器和准直仪,因此您可以为所有应用创造最佳的测量条件。 此外,XULM具有内置的微聚焦管,即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。

X-Ray镀层测厚仪特点

根据DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度

  • XULM的最小测量点约0.1 mm;XUL最小测量点约0.5 mm
  • 钨X射线管或钨微聚焦管(XULM)作为X射线源
  • 采用经实践验证的短测量时间的比例接收器
  • 准直器:固定或4个自动切换
  • 初级过滤器:固定或3个自动切换
  • 固定样品台或手动XY载物台
  • 用于光学观察测量点的摄像头
  • 经认证的全面防护设计;
  • X-Ray镀层测厚仪应用

    电镀层,例如铁上的锌或铁上的锌镍,用于大批量生产的零件(螺母和螺栓)的腐蚀防护

    电镀液中金属含量的分析

    装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS

    电子行业连接器和触点上的镀层

    我们种类齐全的X射线设计用于高可靠性地测量不同的应用。各行种业包括电子、电镀、汽车、黄金和珠宝等领域的公司以及更多的公司都依赖于FISCHERSCOPE X射线仪器进行质量控制。

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